Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2017
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01766137
Soumis le : vendredi 13 avril 2018-12:18:42
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
François Vurpillot, Frederic Danoix, Matthieu Gilbert, Sebastian Koelling, Michal Dagan, et al.. True Atomic-Scale Imaging in Three Dimensions: A Review of the Rebirth of Field-Ion Microscopy. Microscopy and Microanalysis, 2017, 23 (02), pp.210 - 220. ⟨10.1017/s1431927617000198⟩. ⟨hal-01766137⟩
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