Article Dans Une Revue
Journal of Semiconductors
Année : 2016
Cédric Duperrier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01740848
Soumis le : jeudi 22 mars 2018-14:30:50
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01740848 , version 1
- DOI : 10.1088/1674-4926/37/1/014001
Citer
A. Divay, O. Latry, Cédric Duperrier, Farid Temcamani. Ageing of GaN HEMT devices: which degradation indicators?. Journal of Semiconductors, 2016, 37 (1), ⟨10.1088/1674-4926/37/1/014001⟩. ⟨hal-01740848⟩
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