Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2008
Dauverchain Eric : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01630029
Soumis le : mardi 7 novembre 2017-10:27:36
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54
Citer
Frédéric Wrobel, J. Gasiot, Frédéric Saigné, Antoine Touboul. Effects of atmospheric neutrons and natural contamination on advanced microelectronic memories. Applied Physics Letters, 2008, 93 (6), ⟨10.1063/1.2971203⟩. ⟨hal-01630029⟩
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