Article Dans Une Revue
Crystal Growth & Design
Année : 2009
Dauverchain Eric : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01614829
Soumis le : mercredi 11 octobre 2017-14:35:53
Dernière modification le : dimanche 14 janvier 2024-17:56:03
Citer
S. Youssef, P. Combette, J. Podlecki, R. Al Asmar, A. Foucaran. Structural and Optical Characterization of ZnO Thin Films Deposited by Reactive rf Magnetron Sputtering. Crystal Growth & Design, 2009, 9 (2), pp.1088 - 1094. ⟨10.1021/cg800905e⟩. ⟨hal-01614829⟩
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