Ultrafast carrier relaxation through Auger recombination in the topological insulator Bi1.5Sb0.5Te1.7Se1.3

Maciej Lorenc; Yoshito Onishi; Zhi Ren; Kouji Segawa; Wawrzyniec Kaszub; Yoichi Ando; Koichiro Tanaka

doi:10.1103/PhysRevB.91.085306

Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2015

Ultrafast carrier relaxation through Auger recombination in the topological insulator Bi1.5Sb0.5Te1.7Se1.3

(1) , , , , , ,

1

Maciej Lorenc

Fonction : Auteur
PersonId : 938
IdHAL : maciej-lorenc
IdRef : 171944313

Institut de Physique de Rennes

CV

Yoshito Onishi

Fonction : Auteur

Zhi Ren

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Kouji Segawa

Fonction : Auteur

Wawrzyniec Kaszub

Fonction : Auteur

Yoichi Ando

Fonction : Auteur

Koichiro Tanaka

Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics]

Maciej Lorenc : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01169826

Soumis le : mardi 30 juin 2015-12:02:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00

Dates et versions

hal-01169826 , version 1 (30-06-2015)

Identifiants

HAL Id : hal-01169826 , version 1
DOI : 10.1103/PhysRevB.91.085306

Citer

Maciej Lorenc, Yoshito Onishi, Zhi Ren, Kouji Segawa, Wawrzyniec Kaszub, et al.. Ultrafast carrier relaxation through Auger recombination in the topological insulator Bi1.5Sb0.5Te1.7Se1.3. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2015, 91 (8), pp.085306. ⟨10.1103/PhysRevB.91.085306⟩. ⟨hal-01169826⟩

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