Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2018

Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches

Hélène Frémont
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domains

Engineering Sciences [physics] Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Isabelle FAVRE  : Connect in order to contact the contributor

https://hal.science/hal-02519525

Submitted on : Thursday, March 26, 2020-10:13:58 AM

Last modification on : Monday, June 5, 2023-4:52:11 PM

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Dates and versions

hal-02519525 , version 1 (26-03-2020)

Identifiers

  • HAL Id : hal-02519525 , version 1

Cite

Hélène Frémont. Etude de fiabilité en microélectronique : principes généraux et nouvelles approches. Séminaire « Durabilité et fiabilité des panneaux photovoltaïques de diverses technologies en environnements agressifs » UDES, 2018, Bou Ismail, Algérie. ⟨hal-02519525⟩

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