Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2019
Jean-Pierre Chatelon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02128163
Soumis le : mardi 14 mai 2019-09:35:27
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-15:53:08
Citer
D. Oumar, M. Boukhari, M. Taha, S. Capraro, D. Pietroy, et al.. Characterization Method for Integrated Magnetic Devices at Lower Frequencies (up to 110 MHz). Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2019, 35 (2), pp.245-252. ⟨10.1007/s10836-019-05790-3⟩. ⟨hal-02128163⟩
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