Best practice and trends in laser testing for Single−Event Effects - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Best practice and trends in laser testing for Single−Event Effects

Vincent Pouget
Institut d’Electronique et des Systèmes
Radiations et composants

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Vincent Pouget  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02108913

Soumis le : mercredi 24 avril 2019-14:45:25

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02108913 , version 1 (24-04-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02108913 , version 1

Citer

Vincent Pouget. Best practice and trends in laser testing for Single−Event Effects. RADECS Workshop 2018 and the 2nd International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices (ICREED), May 2018, Pekin, China. ⟨hal-02108913⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IES MIPS UNIV-MONTPELLIER
19 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More