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Communication Dans Un Congrès Année : 2017

SEU sensitivity pattern extraction from asynchronous laser testing using frequency domain analysis

Vincent Pouget
Institut d’Electronique et des Systèmes
Radiations et composants

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Vincent Pouget  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02088953

Soumis le : mercredi 3 avril 2019-12:29:39

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02088953 , version 1 (03-04-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02088953 , version 1

Citer

Vincent Pouget. SEU sensitivity pattern extraction from asynchronous laser testing using frequency domain analysis. RADLAS (Workshop on Laser Testing of Radiation Effects on Components and Systems), Oct 2017, Montpellier, France. ⟨hal-02088953⟩

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