Article Dans Une Revue
Analog Integrated Circuits and Signal Processing
Année : 2016
Frédéric Martinez : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02081234
Soumis le : mercredi 27 mars 2019-13:59:28
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Citer
Alfredo Arnaud, Alain Hoffmann. A compact model for flicker noise in MOSFETs considering both correlated mobility and carrier number fluctuations. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 2016, 89 (3), pp.611-618. ⟨10.1007/s10470-016-0836-8⟩. ⟨hal-02081234⟩
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