Elaboration and characterization of MOCVD (Bi1-x Sbx)2 Te3 thin films

A. Mzerd; B. Aboulfarah; Alain Giani; A. Boyer

doi:10.1007/s10853-005-2033-5

Article Dans Une Revue Journal of Materials Science Année : 2006

Elaboration and characterization of MOCVD (Bi1-x Sbx)2 Te3 thin films

, , (1) , (1)

1

A. Mzerd

Fonction : Auteur

B. Aboulfarah

Fonction : Auteur

Alain Giani

Fonction : Auteur
PersonId : 19758
IdHAL : alain-giani
IdRef : 128287322

Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier

A. Boyer

Fonction : Auteur
PersonId : 778324
ORCID : 0000-0003-0838-0573

Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier

Domaines

Electronique

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Dates et versions

hal-02048678 , version 1 (25-02-2019)

Identifiants

HAL Id : hal-02048678 , version 1
DOI : 10.1007/s10853-005-2033-5

Citer

A. Mzerd, B. Aboulfarah, Alain Giani, A. Boyer. Elaboration and characterization of MOCVD (Bi1-x Sbx)2 Te3 thin films. Journal of Materials Science, 2006, 41 (5), pp.1659-1662. ⟨10.1007/s10853-005-2033-5⟩. ⟨hal-02048678⟩

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