Various SEU conditions in SRAM studied by 3-D device simulation

K. Castellani-Coulié (1) , J.-M. Palau (2) , G. Hubert , M.-C. Calvet , P.E. Dodd , F. Sexton

1 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
2 CEM2 - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Micro et nanotechnologies/Microélectronique

K. Castellani-Coulié, J.-M. Palau, G. Hubert, M.-C. Calvet, P.E. Dodd, et al.. Various SEU conditions in SRAM studied by 3-D device simulation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2001, 48 (6), pp.1931-1936. ⟨10.1109/23.983153⟩. ⟨hal-02042690⟩