Banc de mesure du bruit basse fréquence (1/f) pour la caractérisation des transistors MOS - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Banc de mesure du bruit basse fréquence (1/f) pour la caractérisation des transistors MOS

Raphael Briend
  • Fonction : Auteur
Laurent Pichon
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique
CV
Brice Le Borgne
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique
CV
Marcel Renault
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Laurent Pichon  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01962712

Soumis le : jeudi 20 décembre 2018-17:59:20

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01962712 , version 1 (20-12-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01962712 , version 1

Citer

Raphael Briend, Laurent Pichon, Brice Le Borgne, Marcel Renault. Banc de mesure du bruit basse fréquence (1/f) pour la caractérisation des transistors MOS. 15iemes Journées Pédagogiques Nationales du Comité National de Formation en Micro-nanoélectronique,, Nov 2018, Saint Malo, France. ⟨hal-01962712⟩

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