Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température

V. Smet , F. Forest (1, 2) , J.-J. Huselstein (1, 2) , Frédéric Richardeau (3) , M. Berkani (4) , Z. Khatir , Stéphane Lefebvre (5)

1 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
2 GEM - Groupe énergie et matériaux
3 LAPLACE-CS - Convertisseurs Statiques
4 Laboratory of Spectrochemistry and Environment
5 SATIE - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie

Domaines: Electronique

V. Smet, F. Forest, J.-J. Huselstein, Frédéric Richardeau, M. Berkani, et al.. Modes de vieillissement et de défaillance de modules IGBT sous cyclage actif à haute température. Congrès national EPF2010, 2010, Saint Nazaire, France. ⟨hal-01913792⟩