Use and Benefits of COTS Board Level Testing for Radiation Hardness Assurance

M. Rousselet (1) , P. C. Adell (2) , D. J. Sheldon , J. Boch (3, 4) , H. Schone , F. Saigné (3, 4)

1 UR TSCF - Technologies et systèmes d'information pour les agrosystèmes
2 JPL - Jet Propulsion Laboratory
3 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
4 RADIAC - Radiations et composants

Domaines: Electronique

M. Rousselet, P. C. Adell, D. J. Sheldon, J. Boch, H. Schone, et al.. Use and Benefits of COTS Board Level Testing for Radiation Hardness Assurance. IEEE RADECS 2016, 2016, Brême, Germany. ⟨hal-01824783⟩