Localizing and analyzing defects in AlGaN/GaN HEMT using photon emission spectral signatures

Niemat Moultif; Alexis Divay; Eric Joubert; O. Latry

doi:10.1016/j.engfailanal.2017.07.014

Article Dans Une Revue Engineering Failure Analysis Année : 2017

Localizing and analyzing defects in AlGaN/GaN HEMT using photon emission spectral signatures

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1

Niemat Moultif

Fonction : Auteur
PersonId : 750874
IdHAL : moultif
ORCID : 0000-0002-9765-2106
IdRef : 223732303

Groupe de physique des matériaux

Alexis Divay

Fonction : Auteur
PersonId : 977384

Groupe de physique des matériaux

Eric Joubert

Fonction : Auteur
PersonId : 175065
IdHAL : eric-joubert
ORCID : 0000-0001-6585-4603
IdRef : 083021450

Groupe de physique des matériaux

CV

O. Latry

Fonction : Auteur
PersonId : 175169
IdHAL : olivierl
ORCID : 0000-0002-2121-8864
IdRef : 151805482

Groupe de physique des matériaux

CV

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01766076

Soumis le : vendredi 13 avril 2018-11:59:02

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03

Dates et versions

hal-01766076 , version 1 (13-04-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01766076 , version 1
DOI : 10.1016/j.engfailanal.2017.07.014

Citer

Niemat Moultif, Alexis Divay, Eric Joubert, O. Latry. Localizing and analyzing defects in AlGaN/GaN HEMT using photon emission spectral signatures. Engineering Failure Analysis, 2017, 81, pp.69 - 78. ⟨10.1016/j.engfailanal.2017.07.014⟩. ⟨hal-01766076⟩

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