Piezo-generated charge mapping revealed through direct piezoelectric force microscopy

A. Gomez; M. Gich; A. Carretero-Genevrier; T. Puig; X. Obradors

doi:10.1038/s41467-017-01361-2

Article Dans Une Revue Nature Communications Année : 2017

Piezo-generated charge mapping revealed through direct piezoelectric force microscopy

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A. Gomez

Fonction : Auteur

M. Gich

Fonction : Auteur

A. Carretero-Genevrier

Fonction : Auteur
PersonId : 14131
IdHAL : adrien-carretero-genevrier
ORCID : 0000-0003-0488-9452

Institut d’Electronique et des Systèmes

Matériaux, MicroCapteurs et Acoustique

T. Puig

Fonction : Auteur

Institut de Ciència de Materials de Barcelona

X. Obradors

Fonction : Auteur

Institut de Ciència de Materials de Barcelona

Domaines

Electronique

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Archivage à long terme le : vendredi 10 septembre 2021-18:20:37

Dates et versions

hal-01628260 , version 1 (09-06-2021)

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Paternité

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HAL Id : hal-01628260 , version 1
DOI : 10.1038/s41467-017-01361-2

Citer

A. Gomez, M. Gich, A. Carretero-Genevrier, T. Puig, X. Obradors. Piezo-generated charge mapping revealed through direct piezoelectric force microscopy. Nature Communications, 2017, 8 (1), ⟨10.1038/s41467-017-01361-2⟩. ⟨hal-01628260⟩

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