Minority carrier lifetime measurement in nanowire-based solar cells by a reverse recovery transient method

M. Daanoune (1) , D. Kohen (2) , A. Kaminski (1) , Céline Morin (2) , P. Faucherand (2) , S. Perraud (2) , Danièle Blanc (3)

1 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
2 LITEN - Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux
3 INL - PV - INL - Photovoltaïque

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Optique / photonique; Micro et nanotechnologies/Microélectronique; Matériaux

M. Daanoune, D. Kohen, A. Kaminski, Céline Morin, P. Faucherand, et al.. Minority carrier lifetime measurement in nanowire-based solar cells by a reverse recovery transient method. 2014 E-MRS Spring Meeting: Symposium Advanced Materials and Characterization Techniques for Solar Cells II, S. Mirabella, I. Gordon, J. Valenta, R.Turan and H. Atwater, May 2014, Lille, France. ⟨hal-01489815⟩