Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
Lucie Torella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01474799
Soumis le : jeudi 23 février 2017-10:52:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:34:43
Dates et versions
Licence
Identifiants
- HAL Id : hal-01474799 , version 1
Citer
A. Sivadasan, F. Cacho, A. Benhassain, V. Huard, Lorena Anghel. Workload Impact on BTI HCI Induced Aging of Digital Circuits: A System level Analysis. Workshop on Early Reliability Modeling for Aging and Variability in Silicon Systems, Mar 2016, Dresden, Germany. ⟨hal-01474799⟩
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