Analyse de la stabilité thermique d'un transistor bipolaire à hétérojonction GaInP/GaAs à l'aide d'une implémentation parallèle d'un simulateur couplé à un simulateur de circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2000

Analyse de la stabilité thermique d'un transistor bipolaire à hétérojonction GaInP/GaAs à l'aide d'une implémentation parallèle d'un simulateur couplé à un simulateur de circuit

Résumé

no abstract

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01279267 , version 1 (25-02-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01279267 , version 1

Citer

Raphaël Sommet, David Lopez, Raymond Quéré. Analyse de la stabilité thermique d'un transistor bipolaire à hétérojonction GaInP/GaAs à l'aide d'une implémentation parallèle d'un simulateur couplé à un simulateur de circuit. NUMELEC, 2000, POITIERS, France. ⟨hal-01279267⟩

Collections

UNILIM CNRS XLIM
184 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More