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Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique

Julien Fageot 1 Morgane Henry 2 Alexis Huet 3 Gildas Mazo 4 Stéphane Veys 2
2 EDP - Equations aux Dérivées Partielles
LJK - Laboratoire Jean Kuntzmann
4 MISTIS - Modelling and Inference of Complex and Structured Stochastic Systems
Grenoble INP - Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology, LJK - Laboratoire Jean Kuntzmann, Inria Grenoble - Rhône-Alpes
Résumé : Nous nous intéressons à des données issues de mesures de tensions sur des circuits électroniques analogiques. Plus précisément, il s'agit de proposer une analyse de courbes représentant l'évolution en fonction du temps des tensions en différents nœuds d'un circuit électronique. Notre objectif est de proposer une analyse automatisée de la qualité des courbes. Plus précisément, nous proposons ici des méthodes statistiques d'analyse de données capable de : -- Identifier d'éventuels patterns dans les courbes (classification), -- Isoler les courbes présentant des "anomalies" (détection de courbes suspectes).
Document type :
Preprints, Working Papers, ...
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00933235
Contributor : Sylvain Faure Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, February 14, 2014 - 3:48:12 PM
Last modification on : Tuesday, October 19, 2021 - 11:13:14 PM
Long-term archiving on: : Thursday, May 15, 2014 - 9:42:32 AM

File

SEME006-2013-06-D.pdf
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  • HAL Id : hal-00933235, version 1

Citation

Julien Fageot, Morgane Henry, Alexis Huet, Gildas Mazo, Stéphane Veys. Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique. 2013. ⟨hal-00933235⟩

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