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Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique

Résumé : Nous nous intéressons à des données issues de mesures de tensions sur des circuits électroniques analogiques. Plus précisément, il s'agit de proposer une analyse de courbes représentant l'évolution en fonction du temps des tensions en différents nœuds d'un circuit électronique. Notre objectif est de proposer une analyse automatisée de la qualité des courbes. Plus précisément, nous proposons ici des méthodes statistiques d'analyse de données capable de : -- Identifier d'éventuels patterns dans les courbes (classification), -- Isoler les courbes présentant des "anomalies" (détection de courbes suspectes).
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00933235
Contributor : Sylvain Faure <>
Submitted on : Friday, February 14, 2014 - 3:48:12 PM
Last modification on : Friday, April 17, 2020 - 12:02:03 PM
Document(s) archivé(s) le : Thursday, May 15, 2014 - 9:42:32 AM

File

SEME006-2013-06-D.pdf
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Identifiers

  • HAL Id : hal-00933235, version 1

Citation

Julien Fageot, Morgane Henry, Alexis Huet, Gildas Mazo, Stéphane Veys. Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique. 2013. ⟨hal-00933235⟩

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