Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique

Résumé : Nous nous intéressons à des données issues de mesures de tensions sur des circuits électroniques analogiques. Plus précisément, il s'agit de proposer une analyse de courbes représentant l'évolution en fonction du temps des tensions en différents nœuds d'un circuit électronique. Notre objectif est de proposer une analyse automatisée de la qualité des courbes. Plus précisément, nous proposons ici des méthodes statistiques d'analyse de données capable de : -- Identifier d'éventuels patterns dans les courbes (classification), -- Isoler les courbes présentant des "anomalies" (détection de courbes suspectes).
Type de document :
Pré-publication, Document de travail
2013
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00933235
Contributeur : Sylvain Faure <>
Soumis le : vendredi 14 février 2014 - 15:48:12
Dernière modification le : mercredi 23 mai 2018 - 16:23:45
Document(s) archivé(s) le : jeudi 15 mai 2014 - 09:42:32

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  • HAL Id : hal-00933235, version 1

Citation

Julien Fageot, Morgane Henry, Alexis Huet, Gildas Mazo, Stéphane Veys. Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique. 2013. 〈hal-00933235〉

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