Article Dans Une Revue
Electronics Letters
Année : 2012
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https://hal.science/hal-00788173
Soumis le : jeudi 14 février 2013-08:03:40
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
F. Berthet, Y. Guhel, B. Boudart, H. Gualous, J.L. Trolet, et al.. Impact of low gamma radiation dose on electrical trap related effects in AlGaN/GaN HEMTs. Electronics Letters, 2012, 48, pp.1078-1079. ⟨10.1049/el.2012.1966⟩. ⟨hal-00788173⟩
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