Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
Yannick Champion : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00609352
Soumis le : lundi 18 juillet 2011-19:13:58
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00609352 , version 1
Citer
E.F. Rauch. Off-line analysis of structural features using diffraction patterns acquired with the TEM attachment ASTAR. Electron Crystallography for the Characterization of Materials, Aug 2013, Kiel, Germany. ⟨hal-00609352⟩
72
Consultations
0
Téléchargements