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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Pockets engineering impact on mismatch performance on 45nm MOSFET technologies

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00604235

Soumis le : mardi 28 juin 2011-15:01:52

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:27:19

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00604235 , version 1 (28-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00604235 , version 1

Citer

C. M. Mezzomo, C. Leyris, E. Josse, G. Ghibaudo. Pockets engineering impact on mismatch performance on 45nm MOSFET technologies. Int. Conference on Ultimate Integration of Silicon, Mar 2009, Aachen, Germany. pp.15-18. ⟨hal-00604235⟩

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