Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00603793
Soumis le : lundi 27 juin 2011-14:05:11
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:05:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00603793 , version 1
Citer
C. M. Mezzomo, M. Marin, C. Leyris, G. Ghibaudo. Mismatch Measure Improvement Using Kelvin Test Structures in Transistor Pair Configuration in Sub-Hundred Nanometer MOSFET Technology. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, Apr 2009, Oxnard, United States. pp.62-67. ⟨hal-00603793⟩
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