Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2009
Jean-Michel Vinassa : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00414779
Soumis le : jeudi 10 septembre 2009-02:08:14
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:14:19
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00414779 , version 1
Citer
Yassine Belmehdi, Stephane Azzopardi, Adel Benmansour, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard. Uni-axial mechanical stress effect on Trench Punch through IGBT under short-circuit operation. Microelectronics Reliability, 2009, 49, pp.1398-1403. ⟨hal-00414779⟩
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