Failure analysis of advanced CMOS technology: some trends, state of the art and future challenges

Type de document :
Communication dans un congrès
European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401385
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009 - 07:56:05
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:03

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401385, version 1

Citation

Philippe Perdu, Dean Lewis, V. Pouget. Failure analysis of advanced CMOS technology: some trends, state of the art and future challenges. European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. 〈hal-00401385〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

88