Etude paramétrique de la susceptibilité des cartes électroniques par les plans d'expériences numériques

Hicham Tarhini; Christophe Guiffaut; Alain Reineix; S. Karam; B. Pecqueux; J.C. Joly

Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Etude paramétrique de la susceptibilité des cartes électroniques par les plans d'expériences numériques

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Hicham Tarhini

Fonction : Auteur

XLIM

Christophe Guiffaut

Fonction : Auteur
PersonId : 1219
IdHAL : christophe-guiffaut
ORCID : 0000-0002-7550-9966
IdRef : 195280237

OSA

Alain Reineix

Fonction : Auteur
PersonId : 175041
IdHAL : alain-reineix
ORCID : 0000-0002-9439-6258

OSA

CV

S. Karam

Fonction : Auteur

B. Pecqueux

Fonction : Auteur

J.C. Joly

Fonction : Auteur

Sophie Lebraud : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00360636

Soumis le : mercredi 11 février 2009-16:08:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Dates et versions

hal-00360636 , version 1 (11-02-2009)

Identifiants

HAL Id : hal-00360636 , version 1

Citer

Hicham Tarhini, Christophe Guiffaut, Alain Reineix, S. Karam, B. Pecqueux, et al.. Etude paramétrique de la susceptibilité des cartes électroniques par les plans d'expériences numériques. 14ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique et Journées Scientifiques d'URSI France - CEM 2008 - CNFRS/URSI, May 2008, Paris, France. Non Spécifié. ⟨hal-00360636⟩

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