Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2005
Eric Picard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00327775
Soumis le : jeudi 9 octobre 2008-14:33:58
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53
Citer
J. Boch, Frédéric Saigné, R.D. Schrimpf, J.-R. Vaillé, L. Dusseau. Estimation of Low Dose Rate Degradation on Bipolar Linear Integrated Circuits Using Switching Experiments. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2005, VOL 52 (NUMB 6), p. 2616-2621. ⟨10.1109/TNS.2005.860711⟩. ⟨hal-00327775⟩
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