Study of the thermal behavior of the OSL integrated sensor response

P. Garcia (1) , J.-R. Vaillé (1, 2) , D. Benoit , F. Ravotti , L. Artola , B. Sagnes (1, 3) , E. Lorfèvre , F. Bezerra (4) , L. Dusseau (1, 2)

1 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
2 RADIAC - Radiations et composants
3 M@CSEE - Micro électronique, Composants, Systèmes, Efficacité Energétique
4 TIMA - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Temperature irradiation is shown to cause the fading of the OSL signal. The temperature dependence is modeled using an Arrhenius law. A simple method is proposed to correct this effect a posteriori.

Domaines: Electronique

P. Garcia, J.-R. Vaillé, D. Benoit, F. Ravotti, L. Artola, et al.. Study of the thermal behavior of the OSL integrated sensor response. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2007, 54 (6), pp.2272-2275. ⟨10.1109/TNS.2007.910171⟩. ⟨hal-00327149⟩