 |
Free and accessible knowledge |
Conference papers
Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
J. Houard
Author IdHAL : jonathan-houard ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/B-9398-2014 ORCID : https://orcid.org/0000-0001-7244-205X
R. Lardé
Author IdHAL : rodrigue-larde
E. Cadel
Author IdHAL : emmanuel-cadel ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/D-7037-2015
P. Pareige
Author IdHAL : philippe-pareige ORCID : https://orcid.org/0000-0002-5468-0887
D. Hourlier
Author IdHAL : djamila-hourlier ORCID : https://orcid.org/0000-0002-4044-4429
D. Stiévenard 1
Author IdHAL : didier-stievenard
1
IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 ([Univ. Lille, CNRS, Ecole Centrale Lille, Yncréa-ISEN, UVHC] ––
Laboratoire Central – Cité Scientifique – Avenue Poincaré – CS 60069 – 59652 VILLENEUVE D’ASCQ CEDEX - France)
- UPHF - Université Polytechnique Hauts-de-France (Campus Mont Houy 59313 Valenciennes Cedex 9 - France)
- UVHC - Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (Campus Mont Houy 59313 Valenciennes Cedex 9 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8520 (France)
- Université de Lille (Lille - France)
- Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN) (France)
- Centrale Lille (École Centrale de Lille - Cité Scientifique - CS 20048 59651 Villeneuve d'Ascq Cedex - France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00243974
Contributor : Collection Iemn Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, February 7, 2008 - 10:26:52 AM
Last modification on : Wednesday, March 23, 2022 - 3:50:14 PM
Contributor : Collection Iemn Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, February 7, 2008 - 10:26:52 AM
Last modification on : Wednesday, March 23, 2022 - 3:50:14 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-00243974, version 1
Collections
IEMN | CNRS | UNIV-LILLE | UNIV-VALENCIENNES
Citation
J. Houard, R. Lardé, E. Cadel, P. Pareige, D. Hourlier, et al.. Nanofils de Si et sonde atomique tomographique. Journées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs, 2006, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-00243974⟩
Metrics
Record views