Light-ion beam analysis for microelectronic applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 2005

Light-ion beam analysis for microelectronic applications

P. Moretto
  • Fonction : Auteur
L. Serani
  • Fonction : Auteur
F. Natali
  • Fonction : Auteur
B. Damilano
J.Y. Duboz
  • Fonction : Auteur
J.L. Reverchon
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183524 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183524 , version 1

Citer

Lionel Hirsch, Pascal Tardy, Guillaume Wantz, Nolwen Huby, P. Moretto, et al.. Light-ion beam analysis for microelectronic applications. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2005, 240, pp.1. ⟨hal-00183524⟩
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