Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00181801
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-15:44:22
Dernière modification le : lundi 11 septembre 2023-16:36:51
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181801 , version 1
Citer
François Marc, Benoit Mongellaz, Corinne Bestory, Herve Levi, Yves Danto. Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2006, 1, pp.228-234. ⟨hal-00181801⟩
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