Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2006
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00147509
Soumis le : vendredi 18 mai 2007-11:25:38
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00147509 , version 1
Citer
M. Si Moussa, C. Pavageau, D. Lederer, L. Picheta, Francois Danneville, et al.. Behaviour of TFMS and CPW line on SOI substrate versus high temperature for RF applications. Solid-State Electronics, 2006, 50, pp.1822-1827. ⟨hal-00147509⟩
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