Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : quantitative charge measurements and dipole-dipole interactions - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : quantitative charge measurements and dipole-dipole interactions

Thierry Melin
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
H. Diesinger
D. Deresmes
CV
D. Stiévenard

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https://hal.science/hal-00146614

Soumis le : mardi 15 mai 2007-10:45:05

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00146614 , version 1 (15-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00146614 , version 1

Citer

Thierry Melin, H. Diesinger, D. Deresmes, D. Stiévenard. Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : quantitative charge measurements and dipole-dipole interactions. 12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Techniques, STM'03, 2003, Eindhoven, Netherlands. ⟨hal-00146614⟩

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