Pyroelectric characterization of hysteresis phenomena asymmetry in PZT film on silicon structures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Integrated Ferroelectrics Année : 2005

Pyroelectric characterization of hysteresis phenomena asymmetry in PZT film on silicon structures

S. Bravina
  • Fonction : Auteur
N. Morozovsky
  • Fonction : Auteur
Eric Cattan
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Denis Remiens
G.S. Wang
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00138426

Soumis le : lundi 26 mars 2007-11:41:21

Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:29:33

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00138426 , version 1 (26-03-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00138426 , version 1

Citer

S. Bravina, N. Morozovsky, Eric Cattan, Denis Remiens, G.S. Wang. Pyroelectric characterization of hysteresis phenomena asymmetry in PZT film on silicon structures. Integrated Ferroelectrics, 2005, 73, pp.27-35. ⟨hal-00138426⟩

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