Bruit haute fréquence dans les transistors MOS sur SOI : méthodes de caractérisations et de modélisations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Bruit haute fréquence dans les transistors MOS sur SOI : méthodes de caractérisations et de modélisations

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00133898 , version 1 (28-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00133898 , version 1

Citer

G. Pailloncy. Bruit haute fréquence dans les transistors MOS sur SOI : méthodes de caractérisations et de modélisations. WORKSHOP Laboratoire Commun IEMN/ST Microelectronics, 2004, Crolles, France. ⟨hal-00133898⟩
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