High frequency noise of SOI MOSFETs : performances and limitations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

High frequency noise of SOI MOSFETs : performances and limitations

Francois Danneville
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
G. Pailloncy
  • Fonction : Auteur
A. Siligaris
  • Fonction : Auteur
B. Iniguez
  • Fonction : Auteur
Gilles Dambrine

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00125318

Soumis le : vendredi 19 janvier 2007-08:51:11

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00125318 , version 1 (19-01-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00125318 , version 1

Citer

Francois Danneville, G. Pailloncy, A. Siligaris, B. Iniguez, Gilles Dambrine. High frequency noise of SOI MOSFETs : performances and limitations. SPIE Fluctuations and Noise Conference, Noise in Devices and Circuits III, 2005, Austin, TX, United States. ⟨hal-00125318⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE
27 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More