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Communication Dans Un Congrès Année : 2008

A Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00285886

Soumis le : vendredi 6 juin 2008-15:14:23

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00285886 , version 1 (06-06-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00285886 , version 1

Citer

Alejandro Czutro, Nicolas Houarche, Piet Engelke, Ilia Polian, Mariane Comte, et al.. A Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects. ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. pp.113-118. ⟨lirmm-00285886⟩

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