Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 2002
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268584
Soumis le : mardi 1 avril 2008-09:27:54
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50
Citer
Patrick Girard. Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits. IEEE Design & Test, 2002, 19 (3), pp.82-92. ⟨10.1109/MDT.2002.1003802⟩. ⟨lirmm-00268584⟩
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