Communication Dans Un Congrès
Année : 1982
Jocelyne Lorgeril : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00002152
Soumis le : mercredi 19 mai 1999-14:42:12
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00002152 , version 1
Citer
J.C. Pivin, D. Loison, C. Roques-Carmes, J. Chaumont, A.M. Huber, et al.. Use of ionic implantation for quantification of SIMS analysis in metals and oxides-Application to corrosion studies. International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 3, Aug 1981, Budapest, Hungary. pp.274-281. ⟨in2p3-00002152⟩
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