Communication Dans Un Congrès
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research
Année : 1983
Jocelyne Lorgeril : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00001502
Soumis le : mardi 13 avril 1999-11:35:29
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00001502 , version 1
Citer
M.O. Ruault, J. Chaumont, H. Bernas. Transmission electron microscopy study of ion implantation induced Si amorphization. International Conference on Ion Beam Modification of Materials 3, Sep 1982, Grenoble, France. pp.351-356. ⟨in2p3-00001502⟩
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