Feasibility of simultaneous surface topography and XRF mapping using Shear Force Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue International Journal of Nanotechnology Année : 2012

Feasibility of simultaneous surface topography and XRF mapping using Shear Force Microscopy

M. Dehlinger
  • Fonction : Auteur
C. Dorczynski
  • Fonction : Auteur
C. Fauquet
  • Fonction : Auteur
F. Jandard
  • Fonction : Auteur
D. Tonneau
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
A. Bjeoumikhov
  • Fonction : Auteur
S. Bjeoumikhova
  • Fonction : Auteur
R. Gubzhokov
  • Fonction : Auteur
A. Erko
  • Fonction : Auteur
I. Zizak
  • Fonction : Auteur
D. Pailharey
  • Fonction : Auteur
S. Ferrero
  • Fonction : Auteur
B. Dahmani
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics]

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Soumis le : mardi 10 octobre 2023-19:37:01

Dernière modification le : mercredi 11 octobre 2023-03:22:56

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hal-04236292 , version 1 (10-10-2023)

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Citer

M. Dehlinger, C. Dorczynski, C. Fauquet, F. Jandard, D. Tonneau, et al.. Feasibility of simultaneous surface topography and XRF mapping using Shear Force Microscopy. International Journal of Nanotechnology, 2012, 9 (3/4/5/6/7), pp.460. ⟨10.1504/IJNT.2012.045348⟩. ⟨hal-04236292⟩

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