Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportées sur un oxyde léger

R. Revel (1) , D. Bazin (1) , M. Gailhanou (1) , S. Lefevre (1) , Y. Kihn (2) , D. Massiot (3)

1 LURE - Laboratoire pour l'utilisation du rayonnement électromagnétique
2 CEMES - Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales
3 CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation

The complementarity of two techniques related to synchrotron radiation, the X-ray absorption spectroscopy and the anomalous diffraction is shown through the study of a complex material which can be used for different purposes (ionic conductivity, catalysis ...) is developped. For nanometric supported oxide clusters, such approach is able to give an accurate structural description including a precise measure of the occupation octahedral site by cations as well as the size of the nanometer scale cristallite.

La complémentarité entre deux techniques spécifiques au rayonnement synchrotron, la spectroscopie d’absorption X et la diffraction anomale est illustrée au travers l’étude d’entités de taille nanométrique déposées sur un oxyde léger. Pour les oxydes divisés, cette démarche permet une mesure précise de l’état électronique du zinc, du taux d’occupation des sites tétraédriques ainsi que de la taille du cristallite de l’oxyde étudié.

Domaines: Chimie

R. Revel, D. Bazin, M. Gailhanou, S. Lefevre, Y. Kihn, et al.. Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportées sur un oxyde léger. Journal de Physique IV Proceedings, 2000, 10 (PR10), pp.Pr10-289-Pr10-297. ⟨10.1051/jp4:20001032⟩. ⟨hal-04152380⟩