Study of uniaxial deformation behavior of 50 nm-thick thin film of gold single crystal using in situ X-ray pole figure measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Surface and Coatings Technology Année : 2019

Study of uniaxial deformation behavior of 50 nm-thick thin film of gold single crystal using in situ X-ray pole figure measurements

P. Godard
C. Mocuta
P.O. Renault
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J. Drieu La Rochelle, P. Godard, C. Mocuta, D. Thiaudière, J. Nicolai, et al.. Study of uniaxial deformation behavior of 50 nm-thick thin film of gold single crystal using in situ X-ray pole figure measurements. Surface and Coatings Technology, 2019, 377, pp.124878 -. ⟨10.1016/j.surfcoat.2019.06.103⟩. ⟨hal-03488209⟩
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