On-Wafer TRL Calibration Kit Design for InP Technologies Characterization Up To 500 GHz - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Autre Publication Scientifique ESSDERC 2021 Année : 2021

On-Wafer TRL Calibration Kit Design for InP Technologies Characterization Up To 500 GHz

Marina Deng
Mukherjee Chhandak
Centre National de la Recherche Scientifique
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Chandan Yadav
  • Fonction : Auteur
Colombo Bolognesi
  • Fonction : Auteur
Eidgenössische Technische Hochschule - Swiss Federal Institute of Technology [Zürich]
Virginie Nodjiadjim
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1093048
Alcatel-Thales III-V Lab
Sebastien Fregonese
Thomas Zimmer
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1103582
Université de Bordeaux
Magali de Matos
  • Fonction : Auteur
Cristell Maneux
Université de Bordeaux

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Sciences de l'ingénieur [physics]

Chhandak Mukherjee  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03407881

Soumis le : jeudi 28 octobre 2021-16:55:13

Dernière modification le : mardi 1 août 2023-14:54:05

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03407881 , version 1 (28-10-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03407881 , version 1

Citer

Marina Deng, Mukherjee Chhandak, Chandan Yadav, Colombo Bolognesi, Virginie Nodjiadjim, et al.. On-Wafer TRL Calibration Kit Design for InP Technologies Characterization Up To 500 GHz. Workshop 51th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC, Virtual, 2021, 2021. ⟨hal-03407881⟩

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