Impact of Hot Carrier Degradation on the Performances of Current Mirrors based on a 55 nm BiCMOS Integrated Circuit Technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Impact of Hot Carrier Degradation on the Performances of Current Mirrors based on a 55 nm BiCMOS Integrated Circuit Technology

Mukherjee Chhandak
Centre National de la Recherche Scientifique
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Marine Couret
Cristell Maneux
Université de Bordeaux
Didier Céli
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal.science/hal-03407794

Soumis le : vendredi 29 octobre 2021-18:06:46

Dernière modification le : mardi 1 août 2023-14:54:05

Archivage à long terme le : lundi 31 janvier 2022-09:31:23

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Dates et versions

hal-03407794 , version 1 (29-10-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03407794 , version 1

Citer

Mukherjee Chhandak, Marine Couret, Cristell Maneux, Didier Céli. Impact of Hot Carrier Degradation on the Performances of Current Mirrors based on a 55 nm BiCMOS Integrated Circuit Technology. 51th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC, Sep 2021, Virtual, France. ⟨hal-03407794⟩

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