Heritability and correlation for leaf yield parameters in mulberry (Morus alba L.) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Advances in Plant Sciences Année : 2002

Heritability and correlation for leaf yield parameters in mulberry (Morus alba L.)

S.V. Patil
  • Fonction : Auteur
Institut Français de Pondichéry
Mallikarjunappa R.S.
  • Fonction : Auteur
Eswara Rao M.S.
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences agricoles

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https://hal.science/hal-03216816

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Dates et versions

hal-03216816 , version 1 (04-05-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03216816 , version 1

Citer

S.V. Patil, Mallikarjunappa R.S., Eswara Rao M.S.. Heritability and correlation for leaf yield parameters in mulberry (Morus alba L.). Advances in Plant Sciences, 2002, 15 (2), pp.565-571. ⟨hal-03216816⟩

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