Discussion on the Figures of Merit of Identified Traps Located in the Si Film: Surface Versus Volume Trap Densities - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès ECS Meeting Abstracts Année : 2020

Discussion on the Figures of Merit of Identified Traps Located in the Si Film: Surface Versus Volume Trap Densities

B Cretu
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
CV
Beya Nafaa
  • Fonction : Auteur
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Eddy Simoen
  • Fonction : Auteur
IMEC
Geert Hellings
  • Fonction : Auteur
IMEC
Dimitri Linten
  • Fonction : Auteur
IMEC
Cor Claeys
  • Fonction : Auteur
Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Sciences de l'ingénieur [physics]

Bogdan Cretu  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02934726

Soumis le : mercredi 9 septembre 2020-15:46:54

Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02934726 , version 1 (09-09-2020)

Identifiants

Citer

B Cretu, Beya Nafaa, Eddy Simoen, Geert Hellings, Dimitri Linten, et al.. Discussion on the Figures of Merit of Identified Traps Located in the Si Film: Surface Versus Volume Trap Densities. ECS MEETING - annulé, May 2020, Montreal, France. pp.1372-1372, ⟨10.1149/MA2020-01241372mtgabs⟩. ⟨hal-02934726⟩

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