Radiated EMC Kron's Model of 3-D Multilayer PCB Aggressed by Broadband Disturbance

Zhifei Xu (1) , Blaise Elysée Guy Ravelo (2) , Olivier Maurice (3) , Jonathan Gantet , Nicolas Marier (4)

1 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
2 Lab-STICC_UBO_MOM_DIM
3 GERAC
4 VALEO

Domaines: Intelligence artificielle [cs.AI]; Arithmétique des ordinateurs; Systèmes embarqués; Synthèse d'image et réalité virtuelle [cs.GR]; Interface homme-machine [cs.HC]; Ingénierie assistée par ordinateur; Imagerie médicale; Logique en informatique [cs.LO]; Modélisation et simulation; Logiciel mathématique [cs.MS]; Analyse numérique [cs.NA]; Système d'exploitation [cs.OS]; Architectures Matérielles [cs.AR]; Performance et fiabilité [cs.PF]; Technologies Émergeantes [cs.ET]; Traitement des images [eess.IV]; Traitement du signal et de l'image [eess.SP]; Automatique; Biotechnologie; Complexité [cs.CC]; Ingénierie, finance et science [cs.CE]; Géométrie algorithmique [cs.CG]; Informatique et langage [cs.CL]; Cryptographie et sécurité [cs.CR]

Zhifei Xu, Blaise Elysée Guy Ravelo, Olivier Maurice, Jonathan Gantet, Nicolas Marier. Radiated EMC Kron's Model of 3-D Multilayer PCB Aggressed by Broadband Disturbance. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2020, 62 (2), pp.406-414. ⟨10.1109/TEMC.2019.2901670⟩. ⟨hal-02611608⟩